Schichtdickenmessgerät digital TE 1250-0.1 F

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Schichtdicken-Messgerät TE
  • zum schnellen und zerstörungsfreien Messen der Schichtdicken auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen und NE-Metallen
  • mit externer (TE) Messsonde
  • kleines, handliches Gerät
  • gut ablesbares LCD-Display
  • RS 232C Schnittstelle
  • Messprinzip
    Modell TE-F zum Messen von unmagnetischen Schichten auf einem ferromagnetischen Grundwerkstoff (Stahl/ Eisen)
    Modell TE-N zum Messen von elektrisch nicht leitenden Schichten (Eloxalschicht, Lack- Oberflächenschutz usw.) auf NE-Metallen
    Modell TE-FN Kombination aus den beiden o. g. Messprinzipen
  • Messbereich 0 bis 1250 µm
    Auflösung < 100 µm = 0,1 µm / > 100 µm = 1 µm
    Mindeststärke Grundmaterial 0,3 mm
    kleinste Messfläche Ø 6 mm
    kleinster Krümmungsradius F = 1,5 mm Konvex, F = 25 mm Konkav, N = 3 mm Konvex, N = 50 mm Konkav
    Genauigkeit ± 3 % vom Messwert (Standard)
    ± 1 % vom Messwert (Zweipunktkalibr.)
    Stromversorgung 4 x LR3 Micro, AAA
    Gewicht 81 g
    Abmessungen L x B x H 131 x 65 x 28 mm
  • Lieferung im Transportkoffer mit Nullplatte, Distanzfolien, 4 Batterien LR3 Nr. 5480794003 und Bedienungsanleitung

mit externer Messsonde
Artikel-Nr./ATORN Nr.
5770040001
Hersteller Artikel-Nr.
TE 1250-0.1F.
VPE
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SARTORIUS Katalogseite

Technische Merkmale

Ausführung Grundmaterial ferromagnetisch
Bezeichnung TE-F
Messbereich Schichtdicke min./max. 0-1250 µm